| Muut nimekkeet |
1671.3-2017 - IEEE Standard for Automatic Test Markup Language IEEE Std 1671.3-2017 |
|---|---|
| Ulkoasu |
1 online resource (747 pages) |
| Kieli |
englanti |
| Julkaisija |
New York, New York :
IEEE,
2018.
|
| Luokitus | |
| Dewey-luokitus |
621.3 |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| ISBN |
1-5044-4567-8 |
| DOI | 10.1109/IEEESTD.2018.8337144 |
| Standarditunnukset |
doi 10.1109/IEEESTD.2018.8337144 |
| Hae kokoteksti | |
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
