Institute of Electrical and Electronics Engineers. (2018). IEEE Std 1671.3-2017 (Revision of IEEE Std 1671.3-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Unit Under Test (UUT) Description. IEEE. https://doi.org/10.1109/IEEESTD.2018.8337144
Chicago-tyylinen lähdeviittausInstitute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE Std 1671.3-2017 (Revision of IEEE Std 1671.3-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Unit Under Test (UUT) Description. New York, New York: IEEE, 2018. https://doi.org/10.1109/IEEESTD.2018.8337144.
MLA-viiteInstitute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE Std 1671.3-2017 (Revision of IEEE Std 1671.3-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Unit Under Test (UUT) Description. IEEE, 2018. https://doi.org/10.1109/IEEESTD.2018.8337144.
Harvard-tyylinen lähdeviittausInstitute of Electrical and Electronics Engineers. 2018. IEEE Std 1671.3-2017 (Revision of IEEE Std 1671.3-2007): IEEE Standard for Automatic Test Markup Language (ATML) Unit Under Test (UUT) Description. New York, New York: IEEE.
Sisältöä ei voida näyttää
Chat-sisältöä ei voida näyttää evästeasetusten vuoksi. Nähdäksesi sisällön sinun tulee sallia evästeasetuksista seuraavat: Chat-palveluiden evästeet.
Evästeasetukset
